Statická analýza obrazu částic
Statická analýza obrazu častíc by sa mala správne nazývať analýza obrazu statických častíc. Používa sa na určenie veľkosti a tvaru a prípadne zloženia častíc. Takéto častice najčastejšie ležia na sklíčku mikroskopu a majú tak stabilnú orientáciu vzhľadom na mikroskop. To je dôležité najmä v prípade ihličkovitých alebo vláknitých častíc, pri ktorých je na rozdiel od dynamickej optickej analýzy vždy zrejmá ich dĺžka. Dynamická obrazová analýza veľkosti častíc nemá prednostné zobrazenie a ihlicovité častice sa môžu ľubovoľne otáčať smerom k objektívu, a tým skresľovať výsledky. Pri statickej metóde je jednoduchšie zaostriť častice a navyše je možné vyhodnotiť ich výšku a prípadne neskôr pokračovať v analýze.
Výhodou optickej analýzy statických častíc oproti dynamickej analýze je najmä vysoká kvalita údajov získaných pre široký rozsah veľkostí od 0,5 mikrometra do niekoľkých milimetrov pri svetelných mikroskopoch (v závislosti od výberu objektívu) alebo desiatok nanometrov pri elektrónových mikroskopoch. Nevýhodou v porovnaní s dynamickou analýzou je však pomalší zber údajov a potrebná príprava vzorky. Možno povedať, že dynamická optická analýza je lepšou podpornou metódou na kontrolu kvality relatívne veľkých častíc (stovky mikrometrov) s rýchlymi orientačnými výsledkami bez potreby prípravy vzorky. Okrem toho sa svetelná aj elektrónová mikroskopia môže kombinovať so spektrometrami na určenie zloženia častíc. V prípade svetelného systému ide o Ramanov spektrometer. V prípade elektrónového mikroskopu ide o energeticky disperzný spektrometer na určenie lokálneho prvkového zloženia.
Ilustrácie častíc na automatickú statickú analýzu tvaru a zloženia z obrázkov častíc
